光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

QE-PL 光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)是如海光電自主研發(fā)的高性能測試設(shè)備，專注于材料及器件的光致發(fā)光量子效率與光譜響應(yīng)檢測。它適用于太陽能電池、光電探測器、光電材料等的性能測試，廣泛服務(wù)于高校、研究所的學(xué)術(shù)研究，以及企業(yè)的研發(fā)與生產(chǎn)品質(zhì)管理場景。

核心特點(diǎn)

l     高穩(wěn)定性：搭載 300W 高穩(wěn)定性氙燈光源，穩(wěn)定性高于 99%，保障測量結(jié)果的高重復(fù)性與準(zhǔn)確性。

l     高分辨率：采用非對稱水平光路與消慧差設(shè)計(jì)，確保譜線對稱，光學(xué)分辨率優(yōu)異。

l     低雜散光：通過消二次色散設(shè)計(jì)，有效抑制雜散光干擾，提升檢測精度。

l     長壽命設(shè)計(jì)：配備小模數(shù)精密研磨蝸輪蝸桿，運(yùn)行平穩(wěn)噪聲低；狹縫刃口自動(dòng)保護(hù)，寬度調(diào)節(jié)對稱性好，延長設(shè)備使用壽命。

l     精準(zhǔn)可控：搭載步進(jìn)電機(jī)細(xì)分驅(qū)動(dòng)器，光譜準(zhǔn)確度和重復(fù)性高，最小步距可達(dá) 0.005nm。

l     操作便捷：應(yīng)用軟件功能強(qiáng)大，支持圖線與數(shù)據(jù)處理；具備背電極樣品臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)探針臺(tái)采集模式切換。

產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)

典型光譜

（1）光源強(qiáng)度穩(wěn)定性測試

測試時(shí)間：7分鐘

光強(qiáng)波動(dòng)范圍：3.697mW-3.777mW

平均值:3.739mW

標(biāo)準(zhǔn)差：10.41uW

（2）光源波長測試

光源測試測試范圍：350-1700

350nm-900nm

900nm-1700nm

（3）線寬測試

小狹縫時(shí)線寬測試范圍：400-800，間隔50nm

400nm-800nm線寬0.51nm-0.65nm

（4）量子效率穩(wěn)定性測試

光電二極管樣品測試三次量子轉(zhuǎn)換效率：

IPCE

功率

光致電流

應(yīng)用領(lǐng)域

l       IPCE 測試：精確測量材料或器件的光電轉(zhuǎn)換效率，為光電器件性能提升、材料合成優(yōu)化及器件制造工藝改進(jìn)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。適用于太陽能電池研究、光電探測器性能評估等領(lǐng)域。

量子效率測試IPCE圖

l      光電材料檢測：可對發(fā)光器件的光電特性進(jìn)行全面測量，涵蓋光致發(fā)光光譜、電致發(fā)光光譜、外量子效率（EQE）、亮度、色度等參數(shù)。適配光電材料研究、LED 照明技術(shù)、顯示器技術(shù)、半導(dǎo)體器件優(yōu)化等場景。

電致發(fā)光光譜圖